FREE WEBINAR Testlösungen für Silicon Photonics Device Characterisation

Thema: Testlösungen für Silicon Photonics Device Characterisation
Winzige PICs mit großer Wirkung: Bewältigung der Herausforderungen beim Testen von photonischen integrierten Schaltkreisen für Netzwerke dernächsten Generation

Datum: 17. Juni 2020
Uhrzeit: 17:00 Uhr
 

Moderatoren:
Sebastian Giessmann, Product Marketing Manager @ MPI Corporation
Lawrence Van der Vegt, Subject Matter Expert @ EXFO
Ashkan Seyedi, Senior Research Scientist @ HPE

 

In diesem Webinar erfahren Sie, wie die kollaborative EXFO-, HPE- und MPI-PIC-Testlösung die Herausforderungen des Marktes bewältigt, Wafer-Tests schneller, skalierbarer und zuverlässiger macht und letztendlich die Markteinführungsgeschwindigkeit für Komponentenhersteller verbessert.

 

 

 

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