Latchup Tester

Den Latch-Up-Effekt (englisch Single Event Latch-Up) bezeichnet das Zünden (Durchschalten) eines parasitären Thyristors. Dadurch wird die Versorgungsspannung kurzgeschlossen. Sind keine Schutzmaßnahmen vorhanden, kann der Halbleiter durch den sehr großen fließenden Strom thermisch zerstört werden.

 

Ausgelöst wird dieser Effekt durch eine kurze elektrische Spannungsspitze (z.B. Überspannung oder elektrostatische Entladung) oder durch die falsche Reihenfolge der Zuschaltung der Versorgungsspannungen (power up sequencing).

  

Der LatchupTester kann Bauelemente nach Jedec 78A  (IC Latch-Up Test) untersuchen.

 

Datenblatt

Latchup Tester

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Merkmale & Vorteile

  • Quellbereich von 5 µV bis 200 V und 50 pA bis 1 A möglich
  • Modularer Aufbau aus Standardkomponenten
  • Frei skalierbarer Systemaufbau in Pinzahl und SMU-Bestückung
  • Kundenspezifische Schnittstellenlösungen
  • Datenerfassung, Datenspeicherung und Datenauswertung
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