2650
SourceMeter®-Hochleistungs-SMU für Starkstrom
- Wahl von digitalisierenden oder integrierenden Messmodi
- Bietet die beste Leistungsfähigkeit ihrer Klasse mit sechsstelliger Auflösung.
- Zum Erstellen, Ändern, Debuggen und Speichern von TSP-Testskripten.
- Leistungshalbleiter GaN, SiC
- Solarmodul-Test
- Elektromigrationsstudien
- Charakterisierung der Temperatur von Halbleiterübergängen
Die leistungsstarken SMU-Geräte der SourceMeter-Serie 2650 sind speziell für die Charakterisierung und Prüfung von Hochspannungs-/Hochstromelektronik und Leistungshalbleitern konstruiert, wie etwa Dioden, FETs und IGBTs, HB-LEDs, DC-DC-Wandler, Batterien, Solarzellen und sonstigen Hochleistungsmaterialien, Komponenten, Modulen und Baugruppen. Mit ihnen wird beispiellose Leistung, Präzision, Geschwindigkeit, Flexibilität und Bedienerfreundlichkeit erreicht, wodurch sich die Produktivität in F&E, bei Produktionstests und in Umgebungen mit hohen Anforderungen an die Zuverlässigkeit verbessern lässt. Es sind zwei Geräte erhältlich, mit denen eine Impulsstärke von bis zu 3000 V bzw. bis zu 2000 W möglich ist.
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