TS2000-DP
TS2000-DP - DarkBox High Power-Lösung für genaue und zuverlässige DC/CV-, HF- und Hochleistungsmessungen
Mit TS2000-DP bietet MPI eine vielseitige und kostengünstige Probestation für die Messung von High-Power-Geräten on-wafer in einem Temperaturbereich von 20 °C bis 300 °C und einer Messkapazität von 3 kV (triaxial) / 10 kV (koaxial) und 600 A (gepulst). Sie enthält die fortschrittliche MPI-Technologie, wie z. B. PHC™ optional oder als Upgrade vor Ort.
Probekarten und Mikropositionierer
TS2000-DP bietet Zugang zu bis zu 12-facher Hochspannung (bis zu 3 kV triaxial oder 10 kV koaxial) oder 4-facher Mehrfinger-Hochstrom bis zu 400 A Mikropositionierer.
Viele Probes und ein spezieller Probekartenhalter für lichtbogenfreie Hochleistungsprobekarten machen das System zur idealen Wahl für Messungen zur Charakterisierung von Hochleistungsgeräten.
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Software Suite SENTIO(R)
Die automatisierten MPI-Engineering-Probe-Systeme werden über die einzigartige und revolutionäre Multi-Touch-Bedienung der SENTIO® Software Suite gesteuert. Die einfache und intuitive Bedienung spart viel Zeit, da die Befehle „Scrollen“, „Zoomen“ und „Verschieben“ modernen intelligenten Mobilgeräten nachempfunden sind und jeder in wenigen Minuten zum Experten wird. Der Wechsel zwischen der aktiven Anwendung und den übrigen Apps erfolgt durch einfaches Wischen mit dem Finger.
Für RF-Anwendungen ist es nicht notwendig, zu einer anderen Softwareplattform zu wechseln – die MPI RF-Kalibriersoftware QAlibria® ist vollständig in SENTIO® integriert – und bietet eine einfache Bedienung durch ein einziges Bedienkonzept.
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Integration von Instrumenten
TS2000-DP kann mit einer Vielzahl von Geräteschnittstellenpaketen konfiguriert werden, die aus den erforderlichen Hochspannungs-/Hochstromprobes und Kabelzubehör für eine optimale Verbindung zu den Testgeräten wie Keysight B1505 (3 kV oder 10 kV) einschließlich Integration des Modulwählers oder Keithley 2600-PCT-XB einschließlich Integration des 8020 High Power Interface Panel bestehen.
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Anti Arching Technologie
Das System ist mit ArcShield™ ausgestattet, um mögliche Lichtbögen zwischen der Spannvorrichtung und der Sondenplatte zu verhindern.
Die Anti-Lichtbogen-Probecard kann hohen Druck um den Prüfling herum ausüben und mithilfe des Paschen-Gesetzes Lichtbögen zwischen den Pads verhindern.
Die speziell entwickelte „Anti-Arcing LiquidTray™“ kann zur Unterdrückung von Lichtbögen verwendet werden, indem sie einfach auf die Oberfläche des Hochleistungs-Chuck gelegt wird. Wafer können sicher in dem Tray platziert werden, um sie für einen lichtbogenfreien Hochspannungstest in die Flüssigkeit einzutauchen.
Die MPI-Chucks sind für bis zu 10 kV (koaxial) bei 300 °C ausgelegt.
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