TDDB / HTRB HV Test system
High Voltage High Temperature Reliability Test System
- Modulares Systemdesign
- Eigene ATV Ofen-Schnittstelle für verschiedene DUT-Halterungsplatinen
- Jeder Messkanal mit individueller Bias-Quelle
- Integration der Sicherheitsverriegelung (Türverriegelung bei HV)
- Sehr geringer Platzbedarf
- All-in-one Lösung
- Bis zu 244 Messkanäle
- High Voltage bis 3kV
- Temperaturen bis zu 200 °C
Der TDDB/HTRB HV-Tester wird für Langzeitmessungen mit Hochspannungs-DC Bias verwendet. Während dieser Langzeitmessung wird eine einstellbare Bias Hochspannung an die DUTs (Device under Test) angelegt. In einem einstellbaren Messintervall werden alle Messkanäle nacheinander gemessen und als Datensatz gespeichert.
Der Tester bietet eine eigene ATV-Ofen-Schnittstelle für verschiedene DUT-Halter-Mainboards. Diese Mainboards können an Ihre Anforderungen angepasst werden, um Sockets und Anschlüsse bereitzustellen. Für HTRB-Anwendungen sind zusätzliche Gate-Bias-Quellen verfügbar.
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